327-0703-00L Electron Microscopy in Material Science
Semester | Herbstsemester 2021 |
Dozierende | K. Kunze, R. Erni, S. Gerstl, F. Gramm, A. Käch, F. Krumeich, M. Willinger |
Periodizität | jährlich wiederkehrende Veranstaltung |
Lehrsprache | Englisch |
Lehrveranstaltungen
Nummer | Titel | Umfang | Dozierende | ||||
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327-0703-00 V | Electron Microscopy in Material Science | 2 Std. |
| K. Kunze, R. Erni, S. Gerstl, F. Gramm, A. Käch, F. Krumeich, M. Willinger | |||
327-0703-00 U | Electron Microscopy in Material Science | 2 Std. |
| K. Kunze, R. Erni, S. Gerstl, F. Gramm, A. Käch, F. Krumeich, M. Willinger |
Katalogdaten
Kurzbeschreibung | A comprehensive understanding of the interaction of electrons with condensed matter and details on the instrumentation and methods designed to use these probes in the structural and chemical analysis of various materials. |
Lernziel | A comprehensive understanding of the interaction of electrons with condensed matter and details on the instrumentation and methods designed to use these probes in the structural and chemical analysis of various materials. |
Inhalt | This course provides a general introduction into electron microscopy of organic and inorganic materials. In the first part, the basics of transmission- and scanning electron microscopy are presented. The second part includes the most important aspects of specimen preparation, imaging and image processing. In the third part, recent applications in materials science, solid state physics, structural biology, structural geology and structural chemistry will be reported. |
Skript | will be distributed in English |
Literatur | Goodhew, Humphreys, Beanland: Electron Microscopy and Analysis, 3rd. Ed., CRC Press, 2000 Thomas, Gemming: Analytical Transmission Electron Microscopy - An Introduction for Operators, Springer, Berlin, 2014 Thomas, Gemming: Analytische Transmissionselektronenmikroskopie: Eine Einführung für den Praktiker, Springer, Berlin, 2013 Williams, Carter: Transmission Electron Microscopy, Plenum Press, 1996 Reimer, Kohl: Transmission Electron Microscopy, 5th Ed., Berlin, 2008 Erni: Aberration-corrected imaging in transmission electron microscopy, Imperial College Press (2010, and 2nd ed. 2015) |
Leistungskontrolle
Information zur Leistungskontrolle (gültig bis die Lerneinheit neu gelesen wird) | |
Leistungskontrolle als Semesterkurs | |
ECTS Kreditpunkte | 4 KP |
Prüfende | K. Kunze, S. Gerstl, F. Gramm, A. Käch, F. Krumeich, M. Willinger |
Form | Sessionsprüfung |
Prüfungssprache | Englisch |
Repetition | Die Leistungskontrolle wird in jeder Session angeboten. Die Repetition ist ohne erneute Belegung der Lerneinheit möglich. |
Prüfungsmodus | mündlich 10 Minuten |
Zusatzinformation zum Prüfungsmodus | BITTE BEACHTEN: Die mündliche Prüfung dauert 30 MINUTEN pro Kandidat. Aus technischen Gründen kann die Angabe im Vorlesungsverzeichnis davon abweichen. PLEASE NOTE: The oral exam takes 30 minutes per candidate. For technical reasons in the course catalog the published time per candidate can differ. ZWISCHENPRÜFUNG: Ein schriftlicher Test findet Mitte des Semesters statt. Teilnahme ist fakultativ. Ergebnis wird zu 30% an die Gesamtnote angerechnet, wenn damit eine bessere Note erreicht wird. INTERIM ASSESSMENT: A written test takes place in mid semester. Attendance is optional. Result will be counted with 30% weight for final mark, if this would lead to a better mark. |
Diese Angaben können noch zu Semesterbeginn aktualisiert werden; verbindlich sind die Angaben auf dem Prüfungsplan. |
Lernmaterialien
Keine öffentlichen Lernmaterialien verfügbar. | |
Es werden nur die öffentlichen Lernmaterialien aufgeführt. |
Gruppen
Keine Informationen zu Gruppen vorhanden. |
Einschränkungen
Keine zusätzlichen Belegungseinschränkungen vorhanden. |