327-0703-00L  Electron Microscopy in Material Science

SemesterHerbstsemester 2021
DozierendeK. Kunze, R. Erni, S. Gerstl, F. Gramm, A. Käch, F. Krumeich, M. Willinger
Periodizitätjährlich wiederkehrende Veranstaltung
LehrspracheEnglisch



Lehrveranstaltungen

NummerTitelUmfangDozierende
327-0703-00 VElectron Microscopy in Material Science2 Std.
Fr07:45-09:30HCI H 2.1 »
K. Kunze, R. Erni, S. Gerstl, F. Gramm, A. Käch, F. Krumeich, M. Willinger
327-0703-00 UElectron Microscopy in Material Science2 Std.
Fr11:45-13:30HCI H 2.1 »
K. Kunze, R. Erni, S. Gerstl, F. Gramm, A. Käch, F. Krumeich, M. Willinger

Katalogdaten

KurzbeschreibungA comprehensive understanding of the interaction of electrons with condensed matter and details on the instrumentation and methods designed to use these probes in the structural and chemical analysis of various materials.
LernzielA comprehensive understanding of the interaction of electrons with condensed matter and details on the instrumentation and methods designed to use these probes in the structural and chemical analysis of various materials.
InhaltThis course provides a general introduction into electron microscopy of organic and inorganic materials. In the first part, the basics of transmission- and scanning electron microscopy are presented. The second part includes the most important aspects of specimen preparation, imaging and image processing. In the third part, recent applications in materials science, solid state physics, structural biology, structural geology and structural chemistry will be reported.
Skriptwill be distributed in English
LiteraturGoodhew, Humphreys, Beanland: Electron Microscopy and Analysis, 3rd. Ed., CRC Press, 2000
Thomas, Gemming: Analytical Transmission Electron Microscopy - An Introduction for Operators, Springer, Berlin, 2014
Thomas, Gemming: Analytische Transmissionselektronenmikroskopie: Eine Einführung für den Praktiker, Springer, Berlin, 2013
Williams, Carter: Transmission Electron Microscopy, Plenum Press, 1996
Reimer, Kohl: Transmission Electron Microscopy, 5th Ed., Berlin, 2008
Erni: Aberration-corrected imaging in transmission electron microscopy, Imperial College Press (2010, and 2nd ed. 2015)

Leistungskontrolle

Information zur Leistungskontrolle (gültig bis die Lerneinheit neu gelesen wird)
Leistungskontrolle als Semesterkurs
ECTS Kreditpunkte4 KP
PrüfendeK. Kunze, S. Gerstl, F. Gramm, A. Käch, F. Krumeich, M. Willinger
FormSessionsprüfung
PrüfungsspracheEnglisch
RepetitionDie Leistungskontrolle wird in jeder Session angeboten. Die Repetition ist ohne erneute Belegung der Lerneinheit möglich.
Prüfungsmodusmündlich 10 Minuten
Zusatzinformation zum PrüfungsmodusBITTE BEACHTEN: Die mündliche Prüfung dauert 30 MINUTEN pro Kandidat. Aus technischen Gründen kann die Angabe im Vorlesungsverzeichnis davon abweichen.
PLEASE NOTE: The oral exam takes 30 minutes per candidate. For technical reasons in the course catalog the published time per candidate can differ.

ZWISCHENPRÜFUNG: Ein schriftlicher Test findet Mitte des Semesters statt. Teilnahme ist fakultativ. Ergebnis wird zu 30% an die Gesamtnote angerechnet, wenn damit eine bessere Note erreicht wird.
INTERIM ASSESSMENT: A written test takes place in mid semester. Attendance is optional. Result will be counted with 30% weight for final mark, if this would lead to a better mark.
Diese Angaben können noch zu Semesterbeginn aktualisiert werden; verbindlich sind die Angaben auf dem Prüfungsplan.

Lernmaterialien

Keine öffentlichen Lernmaterialien verfügbar.
Es werden nur die öffentlichen Lernmaterialien aufgeführt.

Gruppen

Keine Informationen zu Gruppen vorhanden.

Einschränkungen

Keine zusätzlichen Belegungseinschränkungen vorhanden.

Angeboten in

StudiengangBereichTyp
Chemie MasterMaterialwissenschaftWInformation
Erdwissenschaften MasterWahlfächerWInformation
Materialwissenschaft MasterWahlfächerWInformation
Neural Systems and Computation MasterWahlfächerWInformation
Physik MasterAllgemeine WahlfächerWInformation